Återgå till huvudnavigering Återgå till sök Gå direkt till huvudinnehållet

Reversible stress-induced doping and charge trap generation in IDT-BT EGOFETs

Forskningsoutput: TidskriftsbidragArtikelVetenskapligPeer review

2 Citeringar (Scopus)
75 Nedladdningar (Pure)
Filter
Slutfört

Sökresultat