Optical far-field method with subwavelength accuracy for the determination of nanostructure dimensions in large-area samples

Nicklas Anttu*, Magnus Heurlin, Magnus T. Borgström, Mats-Erik Pistol, H. Q. Xu, Lars Samuelson

*Korresponderande författare för detta arbete

Forskningsoutput: Tidskriftsbidrag › Artikel › Vetenskaplig › Peer review

13 Citeringar (Scopus)

Fingeravtryck

Fördjupa i forskningsämnen för ”Optical far-field method with subwavelength accuracy for the determination of nanostructure dimensions in large-area samples”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.

Keyphrases

Material Science