Abstrakti
The absorption of light is at the core of photovoltaic applications. For many nanostructure-based devices, an assessment of the absorption in the nanostructures is complicated by a thick, opaque substrate that prohibits transmission measurements. Here, we show how a single reflection measurement can be used for approximating the amount of light absorbed in vertical semiconductor nanowire arrays.
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 1449-1451 |
Sivumäärä | 3 |
Julkaisu | Optics Letters |
Vuosikerta | 38 |
Numero | 9 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 2013 |
Julkaistu ulkoisesti | Kyllä |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu |