Optical far-field method with subwavelength accuracy for the determination of nanostructure dimensions in large-area samples

Nicklas Anttu*, Magnus Heurlin, Magnus T. Borgström, Mats-Erik Pistol, H. Q. Xu, Lars Samuelson

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

13 Sitaatiot (Scopus)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Optical far-field method with subwavelength accuracy for the determination of nanostructure dimensions in large-area samples'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Keyphrases

Material Science