Characterizing ultrathin and thick organic layers by surface plasmon resonance three-wavelength and waveguide mode analysis

Niko Granqvist, Huamin Liang, Terhi Laurila, Janusz Sadowski, Marjo Yliperttula, Tapani Viitala*

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

50 Sitaatiot (Scopus)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Characterizing ultrathin and thick organic layers by surface plasmon resonance three-wavelength and waveguide mode analysis'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Engineering

Keyphrases

Material Science