Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Characterizing ultrathin and thick organic layers by surface plasmon resonance three-wavelength and waveguide mode analysis

  • Niko Granqvist
  • , Huamin Liang
  • , Terhi Laurila
  • , Janusz Sadowski
  • , Marjo Yliperttula
  • , Tapani Viitala*
  • *Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

54 Sitaatiot (Scopus)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Characterizing ultrathin and thick organic layers by surface plasmon resonance three-wavelength and waveguide mode analysis'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.
Järjestys:

Engineering

Keyphrases

Material Science